青田恒韧完成新一轮融资,用于半导体前道电子束量测设备制造

要闻 2024-10-11 10:38:30
导读 近日,青田恒韧智能科技有限公司(以下简称“青田恒韧”)完成了新一轮融资,由启迪之星投资,资金将用于半导体前道电子束量测设备CD-SEM的...
2024-10-11 10:38:30

近日,青田恒韧智能科技有限公司(以下简称“青田恒韧”)完成了新一轮融资,由启迪之星投资,资金将用于半导体前道电子束量测设备CD-SEM的研发制造。

据悉,电子束检测设备主要利用电子束扫描wafer表面并接收其散射信号,从而获取wafer表面信息的高精度检测设备;电子束检测设备在半导体领域,用于保证和提高半导体产线的良率。电子束检测设备本身面临着极高的技术门槛,研发难度极大,CD-SEM设备领域长期被Hitachi一家全球垄断。

青田恒韧作为一家专注于研发制造CD-SEM设备的高科技企业,团队成员早在2019年底就率先提出研发CD-SEM设备的目标;2021年年中完成DEMO机的软件工作;2022年全面转向CD-SEM用扫描电镜的研究工作;2023年年中初步掌握高端CD-SEM用扫描电镜的底层核心技术,并于该年年底,在充分研究CD-SEM用扫描电镜和软件架构的基础上,理清软硬件之间的复杂勾稽关系,完成CD-SEM设备软件部分的完整架构工作。公司一步步扎实取得的阶段性研发成果,为在中国有望率先取得高端CD-SEM设备“0”的突破奠定了坚实基础。

青田恒韧创始人赵博士表示:“高端的CD-SEM设备(20nm的沟槽量测)涉及到众多学科,以及众多学科之间的交叉影响问题,是个很复杂的工程化设备,极具挑战性。我们基于CD-SEM研究的底层物理关系显示,高端CD-SEM的难度,相比于低端CD-SEM(大于100nm的沟槽量测)的难度,完全是天壤之别;低端的CD-SEM设备,如果不能完成对标Hitachi的完整软件架构,设备的稳定性、准确性就谈不上,也就无法跨越向高端CD-SEM迈进的鸿沟。”

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